Bir atomik kuvvet mikroskobu ( AFM )nano – ölçekte çok küçük özellikleri ölçmek için kullanılan bir cihazdır . Onun temel bileşenleri atomik keskin ucu bunun üzerine küçük bir konsol oluşmaktadır . Işleyiş temas modunda,bir uç yüzey üzerinde taranır ve bu numuneler yüzeyindeözellikleri ile yukarı ve aşağı hareket eder. Bu, numune yüzeyinin bir harita yapılmasına olanak sağlamaktadır . Doğru örnek özellikleriyüksekliğini hesaplamak için ,AFM normalde Sen Atomik kuvvet mikroskobu kalibrasyon örnek
Cımbızlar
Atomik kuvvet mikroskobu ipuçları
Atomik kuvvet mikroskobu
ihtiyacınız olacak calibrated.Things olmak zorundadır
Daha Talimatlar göster
ucu tutucu üzerine 1
DağıAFM ucu
. Uç tutucu , normal olarak plastik bir platform üzerine monte edilmiş olan bir yaylı klips oluşur. Cımbız kullanarak, kutusundan yeni bir ipucu kaldırın ve dikkatli birplastik platform üzerine yerleştirin. Klip hafifçe kalkana , böyleceyaylı klipsi aşağı doğru bastırın . Cımbız kullanarak , yavaşçayaylı klibin altındaucunu itin ve serbest bırakın. Ucu sıkıca tutulmalıdır .
2
mikroskop kafasınaucu yerleştirin . Normaldeuç tutucumikroskop kafasına pimleri karşılık küçük fişler bir numarası olacak . Dikkatlicemikroskop kafasınapimleri içineuç yuvasını takın .
3
Dağıtarama sahnedekalibrasyon örnek . Kalibrasyon numuneleri genellikle genellikle 20nm çevresinde , bilinen kalınlıkta çizgiler bir ızgara oluşur .
4
Resimkalibrasyon örnek . Tarama kontrol kullanılarak, kalibrasyon numune ile temas halinegetirmek ve ucuızgara görülebilir , böylece uygun boyutlu bir görüntü ölçer.
5
AFM ve ucu kalibre edin. Görüntü tamamlandıktan sonra, ızgara yüksekliğiölçülen değerini kontrol vekalibrasyon numune üreticisi tarafından belirtilenkalınlıkta karşılaştırmak bu
ölçülen kalınlığı fiili kalınlıkoranını hesaplayın : .
Kalibrasyon oranı = Gerçek kalınlık /ölçülen kalınlığı
Bu AFM ucu kullanılarak gelecekte kalınlık ölçümleri ,doğru kalınlığını belirlemek içinyeniden düzenlenmiş formülü kullanın : .
Gerçek kalınlık = Kalibrasyon oranı x ölçülen kalınlığı
